手持式光谱合金分析仪对涂层镀层测试的解决方案
客户 般使用奥林巴斯Vanta™手持式X射线荧光(XRF)光谱仪来确定合金,金属和其他材料的化学成分,但您是否知道还可以使用手持式XRF光谱仪测量涂层镀层的厚度?奥林巴斯Vanta手持式XRF光谱仪可以测量金属,塑料,玻璃甚至木材上涂层镀层的厚度。
----产品优势 :现场检测,快速无损,无需送抵实验室,大大提高效率 。
-----分析速度较台式光谱仪快很多,仅几秒钟就可显示分析结果 。
------体积小,重量轻,携带方便。
使用手持式X射线荧光(XRF)光谱仪进行涂层镀层测量的好处:
1.精确的厚度测量有助于制造商提供优质产品,同时控制成本。涂层镀层的厚度要求比较严格; 涂层镀层太厚会增加制造成本。客户还可以测量涂层镀层材料,以确保产品涂有合适的涂层镀层和合适的厚度。
2.使用快速,高效且无损的手持式X射线荧光(XRF)光谱仪有助于在产品生产线和现场提供质量控制。Vanta手持式XRF光谱仪可以在短短10秒内提供测试结果,并且可以通过 准直器来改善结果,准直器测试可以在30秒内完成。手持式XRF光谱仪也不会损坏被测材料。由于手持式XRF光谱仪是小型,便携式和手持式的,因此可以轻松测试大样品,否则必须将其切割成才能使用台式XRF光谱仪来测试。
涂层镀层的作用:
1.涂层镀层可用于装饰性,保护性或其他功能性目的。例如,汽车工业使用涂层镀层来增强耐腐蚀性,装饰性,耐磨性以及保护电子设备。同样,航空航天工业使用的涂层镀层有助于减少阻力并防止碎屑和积聚,从而节省燃料消耗。
2.涂层镀层非常普遍,因为大多数涂层镀层材料具有其特定的作用。比如镍:坚韧,耐用且具有延展性,使其成为 种比较受欢迎的涂层镀层材料。根据ASTM推荐的钢材质量表面处理标准,在烤面包机,华夫饼干机,烤肉架和类似设备上应使用约10微米的镍。为了防潮,镍被应用于炉灶,家具,浴室配件和橱柜。另 种比较受欢迎的涂层镀层铬与镍相似,但具有更强的耐腐蚀性和耐磨性。
涂层镀层材料的其他常见应用包括:
1.屏蔽电子设备:导电涂层镀层用于帮助屏蔽塑料设备;
2.建筑表面处理:涂层镀层可保护铁和钢免受锈蚀,铜和黄铜不会失去光泽,锌和铝可以防污渍;
3.太阳能电池:许多太阳能电池都有薄合金或聚合物涂层镀层;
4.工具钢:钛和碳化钨有助于提高耐磨性和耐用性;
5.电气布线:锌和镍涂层镀层正在取代传统的镉涂层镀层;
带有涂层的螺纹螺钉
使用XRF分析仪进行涂层测量的优势特性
准确的厚度测量结果有助于制造商提供质量上乘的产品,同时还可以控制成本。涂层的厚度应该恰到好处;产品的涂层太厚会增加制造成本。客户对来料进行质量控制时,也会对涂层进行检测:确保所接收来料使用的是正确的涂层材料,
涂层材料无处不在
Vanta分析仪屏幕上的厚度测量值
工业产品普遍使用涂层,因为大多数涂层都起到了非常重要的作用。镍具有坚韧、耐用、延展性好的特性,因而成为 种广受欢迎的涂料。根据ASTM针对钢材料产品的优质表面处理所推荐的标准,烤面包机、华夫饼机、烤肉机,以及类似的电器用品都应该使用约10微米的镍涂层。镍还具有防潮的性能,因此炉灶的上表面、家具、浴室配件和厨柜也会使用镍涂层。另 种广受欢迎的涂料是铬,铬与镍的性能相似,而且,具有更强的抗腐蚀和抗磨损的性能。
XRF如何测量涂层镀层
Vanta手持式XRF光谱仪可根据材料测量0.00至约60.00微米的涂层镀层厚度。X射线从手持式XRF光谱仪发出,它们撞击样品,使其发出荧光。手持式XRF光谱仪接收返回的的X射线并使用数据计算涂层镀层或涂层镀层的厚度。
根据ASM International的耐腐蚀和耐磨表面工程,各种表面工程技术都属于这 范围,包括电镀(机械,化学,电解),蒸汽(化学,物理沉积)和粘合(树脂或漆)。因此,手持式XRF光谱仪可以为涂层镀层测试提供简单方便的解决方案。
近年来,汽车工业发展迅速,电力行业也备受关注。汽车零部件作为支撑汽车产业快速稳定发展的基础,发展我国汽车零部件产业具有重大意义,而电镀技术是汽车零部件质量品质保证的常用技术。
电力行业中高压隔离开关应用范围相当的广泛,主要用于高压线路无负载换接、断路器等电气设备与高压线路之间的电气隔离,其镀层厚度会 大的影响开关导电性和使用寿命。因此,对相关部件表面镀层厚度的测量就显得尤为必要。
案例 :
通常在汽车零部件表面进行电镀处理,以提高汽车部件材料长期运行的可靠性、稳定性和耐蚀性。但是,如果电镀层太厚,增加成本;太薄无法达到产品应用质量要求。因此,对电镀层厚度的控制尤为重要。
氧化锆是汽车行业常用的 种保护膜,利用奥林巴斯元素分析仪滤膜模式分析铁基上镀氧化锆涂层的厚度,各个数据点线性相关性非常好,几乎在同 条直线上。优化后检测的数据如下表,其测试结果与标准值相对误差小于3%。
案例二:
对于像高压隔离开关常年暴露在大气环境条件下使用的设备,通常在表面电镀 层银以保持开关良好的导电性,而电镀银的厚度对开关使用寿命影响巨大。
利用奥林巴斯元素分析仪的测厚模式,分析 系列铜镀银样品,所得结果如下表。各个数据点相关系数为0.996,线性相关性非常好。当银厚度为1-30 µm 范围内,测量值与标称值平均误差为0.6 µm, 30-60 µm 范围内平均误差为 1.3 µm,相对误差小于4%,在可接受范围以内,测厚范围可达1-60 µm。
目前,奥林巴斯VANTATM手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料,基体可以是任何类型的材料,不局限于金属。因此,在汽车制造、航空航天、电力等行业薄膜厚度测定具有巨大的应用前景。
Vanta
新型Vanta系列仪器性能改进:坚固耐用,多产
- 仪器配备SD存储卡
- 可使用WI-FI,蓝牙(Bluetooth)适配器进行数据传输
- 可使用USB闪存盘进行方便快速的数据传输
- Axon技术提高分析结果的性
- IP 65/64—防尘防水
- 坠落测试(MIL-STD-810G)
- 探测器快门闸保护及聚酰亚胺网眼保护
奥林巴斯手持式X射线荧光分析仪可对包括镁和铀在内的很多元素进行快速无损分析,可检测出的含量从百万分率到100%。分析仪在检测速度、检出限及可检元素的范围方面具有性能。这款分析仪的外壳符合工业设计标准, 为坚固耐用,可以在恶劣的环境中正常工作。如需详情请联系销售人员或登录公司网站www.sourceinst.com.cn。