国际标准分类中,四探针法涉及到半导体材料、金属材料试验、*缘流体、兽医学、复合增强材料、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、土质、土壤学、水质、电子显示器件、有色金属。
在中国标准分类中,四探针法涉及到半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
半导材料四探针测试仪(BEST-300C)
半导电材料电阻测试仪BEST-300C
特点:电阻精度:0.01%,小分辨率0.1uΩ;
方电阻精度:1%,小分辨率:0.1uΩ;
双电测原理,提?精度和稳定性;
测试探头直排和矩形可选;
标配RS232、LAN、IO、通讯接?;
可配戴软件查看和记录测试数据;
适用范围
使?四探针治具测试?状或块状半导体材料、?属涂层以及导电薄膜等材料的?阻和电阻率
使?开尔?测试夹直接测试电阻器直流电阻;
四端测试法是目前较之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的*种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求
四探针?阻测试仪是运?四探针原理测量?块电阻的专?仪器,电阻率和电导率同时显?。仪器
测试范围0-10MΩ,分辨率0.1uΩ,电阻精度0.01%,精度2%。可?于测试半导体、?属涂层导电薄膜等材料的?阻和电阻率。
参数便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;
基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。
精度高:电阻基本准确度: 0.01%;
方阻基本准确度:1%;
电阻率基本准确度:1%
整机测量相对误差:≤±1%;整机测量标准不确定度:≤±1%
四位半显示读数;十量程自动或手动测试;20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ 10档分选;实现HIGH/IN/LOW分选
测量范围宽: 电阻:10-7Ω~10+8Ω ;方阻:10-7Ω/□~10+8Ω/□;
正反向电流源修正测量电阻误差
恒流源:电流量程为:DC100mA-1A;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即*让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可*直处于开的状态。
可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。
校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。
厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。
自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。
双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.
具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。
比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。
测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。
软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分
析。
显示语言 英文/中文
供电模式110v/220v
提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求
半导材料四探针测试仪(BEST-300C)
半导电材料电阻测试仪BEST-300C
特点:电阻精度:0.01%,分辨率0.1uΩ;
方电阻精度:1%,分辨率:0.1uΩ;
双电测原理,提?精度和稳定性;
测试探头直排和矩形可选;
标配RS232、LAN、IO、通讯接;
可配戴软件查看和记录测试数据;
适用范围使?四探针治具测试?状或块状半导体材料、属涂层以及导电薄膜等材料的?阻和电阻率
使?开尔?测试夹直接测试电阻器直流电阻;
四端测试法是目前较之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的*种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求
四探针?阻测试仪是运四探针原理测量块电阻的专?仪器,电阻率和电导率同时显?。仪器
测试范围0-10MΩ,分辨率0.1uΩ,电阻精度0.01%,精度2%。可?于测试半导体、?属涂层导电薄膜等材料的?阻和电阻率。