光源发射器LIC
非接触边缘位置检测
LIC光源发射器经常用于分析系统如EVK或EVM接收器调整装置,以对非透明材料进行非接触边缘位置检测。使用集成电控元件可以实现光强度的精确控制和故障监测。
压缩光源系统LIC的发展,进 步完善了已广受好评的高频光源接受器LIH。它与LIH光源 大的区别在于其将电子控制系统与光源相结合,并应用于标准的工业荧光管上。
荧光灯管接受1000Hz来自LIC光电设备的脉冲压后,由 光电池检测到其光源强度,然后通过电控器将其值控制在稳定范围内。而荧光灯管的电压、温度变化和灯管的老化均不会对灯光强度和测量数据产生影响。当达到控制 限或失去正常光源时,带钢位置控制器的只能监控系统会立刻锁定控制器并发送错误报告。为了便于维护,荧光管装在带有横向导轨的可拆卸部件上。并使用稳压工业插头以确保方便、快捷地进行操作。
德国EMG光源发射器LIC